智能電源測試老化房適用于計算機、終端機、電源供應器、電子交換機、等電子組件壽命測試。為早期發(fā)現(xiàn)不良品之移處，提高產(chǎn)品的可靠性、為控制成本和保護產(chǎn)品之有效手段。特點：內(nèi)容積可任意放大縮小，隨使用者環(huán)境需求而設計。
更新時間：2021-04-01
| 品牌 | 尚測/suncek |
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智能電源測試老化房適用于計算機、終端機、電源供應器、電子交換機、等電子組件壽命測試。為早期發(fā)現(xiàn)不良品之移處，提高產(chǎn)品的可靠性、為控制成本和保護產(chǎn)品之有效手段。特點：內(nèi)容積可任意放大縮小，隨使用者環(huán)境需求而設計。
一、智能電源測試老化房技術(shù)參數(shù)：
注：在環(huán)境溫度+25攝氏度時，空載條件下以內(nèi)箱離各扁1/6距離有效空間測得的數(shù)據(jù)。
二、智能電源測試老化房結(jié)構(gòu)
三、智能電源測試老化房安裝條件
